专辑类-电子工艺-质量及可靠性相关专辑-80册-9020M 电子设备贮存与不工作可靠性预计方法-220页-4.0M.pdf
上传时间： 2013-06-22
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专辑类-电子工艺-质量及可靠性相关专辑-80册-9020M 电子工业专用设备设计手册-633页-12.8M.pdf
上传时间： 2013-06-07
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专辑类-电子工艺-质量及可靠性相关专辑-80册-9020M 电子设备-可靠性热设计指南-194页-2.2M.pdf
上传时间： 2013-07-25
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专辑类-电子工艺-质量及可靠性相关专辑-80册-9020M 电子设备结构与工艺-309页-8.0M.pdf
上传时间： 2013-04-24
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专辑类-测试技术专辑-134册-1.93G 电路与设备测试检修技术及仪器-492页-13.2M.pdf
上传时间： 2013-06-30
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专辑类-国标类相关专辑-313册-701M GB-T15290-1994-电子设备用电源变压器和滤波扼流圈总技术条件.pdf
上传时间： 2013-05-26
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专辑类-国标类相关专辑-313册-701M 中文版ROSH关于在电气电子设备中限制使用某些有害物质指令.pdf
上传时间： 2013-06-25
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专辑类-国标类相关专辑-313册-701M GB-T-2470-1995-电子设备用固定电阻器、固定电容器型号命名方法.pdf
上传时间： 2013-06-19
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现场总线技术是当前自动化技术中的一个热点，但目前国际上常用的多种现场总线协议均由世界级厂商提出和垄断。CAN总线是公认的最具发展前景的现场总线之一，其应用层协议有国外公司的CANopen和DeviceNet，由广州致远电子推出的现场总线iCAN协议以其简洁方便的特点受到广泛关注，尤其得到国内用户的积极相应。为了在高校的现场总线教学中推广具有我们国家自主知识产权的现场总线应用，需要为学生提供一套功能完善、综合性强的基于iCAN协议现场总线技术的实验室教学系统。本课题正是针对这一问题而构建基于现场总线iCAN协议的综合测试系统，力求使学生通过该系统的学习掌握现场总线iCAN协议相关知识，为将来快速进入相关工作岗位打下基础。 本文首先介绍基于现场总线iCAN协议综合测试系统的研究背景、目的及其意义，详细介绍了现场总线技术和CAN总线的相关知识，对iCAN协议进行了详细的介绍和分析。所设计的基于现场总线iCAN协议的综合测试系统由基本系统和扩展系统两部分构成。基本测试系统设计面向基本的标准实验设备，利用广州致远的iCAN系列功能模块构成；扩展系统设计面向测试系统的综合性设计，实现iCAN网络与其它控制网络如PLC网络的互连，并通过CANET-100转换器实现iCAN总线与上位PC机的通信。测试系统的上位监控界面设计采用工业组态软件MCGS完成，MCGS与总线的数据交互采用OPC方式实现。通过OPC实现iCAN网络与MCGS间的数据传输。在完成基于现场总线iCAN协议综合测试系统的基础上，本文还进一步讨论了如何采用基于DSPTMS320LF2407A主控芯片设计iCAN综合数据采集卡，叙述了其整体设计思想， 给出了具体的硬件和软件设计以及如何实现对iCAN协议的解析。本文的最后通过设计三个实际的实验例子，进一步展示了系统的构成和功能。 综上所述，该测试系统由基本测试系统和综合测试系统构成，并提供iCAN综合数据采集卡的设计方法和三个实验例程，可为学生提供分层学习、综合学习以及设计开发平台，实践证明该系统具有良好的新颖性和实用性。本课题研究的测试系统模式同样适用于其它工业现场总线测试系统。 关键词：CAN总线，iCAN协议，DSP，PLC，组态软件
上传时间： 2013-04-24
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电子功能模件是机电产品的基本组成部分，其水平高低直接决定整个机电产品的工作质量。当前PCB自动测试系统大多为欧美产品，价格相当昂贵，远远超出我国中小电子企业的承受能力。为了提高我国中小企业电子设备的竞争力，本课题研发了适合于我国中小企业、价格低廉、使用方便的PCB路内测试系统。 本文首先详细介绍了PCB各种检测技术的原理和特点，然后根据本课题面向的用户群和他们对PCB测试的需求，组建PCB内测试系统。本系统基于虚拟仪器设计思想，以PCB上模拟电子器件、组合逻辑电路及由其构成的功能模块等为被测对象，包括路内测试仪、逻辑分析单元、信号发生器、高速数据采集器、多路通道扫描器及针床。其中：路内测试仪对不同被测对象选择不同测试方法，采用电位隔离法实现了被测对象与PCB上其他元器件的隔离，并采用自适应测试方法提高测试结果的准确度。逻辑分析单元主要采用反向驱动技术测试常见的组合逻辑电路。信号发生器能同时产生两路正弦波、方波、斜波、三角波等常用波形。数据采集器能同时采集四路信号，以USB接口与主机通讯。多路通道扫描器采用小型继电器阵列来实现，可扩展性好。针床采用新型夹具，既保证接触性能，又不至破坏触点。 实践表明，本系统能对常用电子功能模件进行自动测试，基本达到了预期目标。
上传时间： 2013-06-06
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