摘要:IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析实例,对引起这些失效的根本原因作了深入探讨,就提升制造成品率、改善可靠性提出应对措施.
关键词:IC卡;薄/超薄芯片;碎裂;键合
资源简介：摘要:IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析...
上传时间： 2013-11-09
上传用户：wangjg
资源简介： 为了保证在高温条件下，正确使用高频硅PNP晶体管3CG120，文中对3CG120在不同温度段的失效机理进行了研究。通过对硅PNP型晶体管3CG120进行170~340 ℃温度范围内序进应力加速寿命试验，发现在170~240 ℃，240~290 ℃，以及290~340 ℃分别具有不同的失效机理...
上传时间： 2013-10-15
上传用户：bensonlly
资源简介：由于绝缘栅双极晶体管IGBT具有工作频率高、处理功率大和驱动简单等诸多优点,在电力电子设备、尤其是中大型功率的电力电子设备中的应用越来越广泛。但是,IGBT失效引发的设备故障往往会对生产带来巨大影响和损失,因此,对IGBT的失效研究具有十分重要的应用意义。...
上传时间： 2013-08-04
上传用户：lrx1992
资源简介：芯片实效分析技术 1、失效分析方法和技术 2、失效机理和相应的分析技术 3、分析案例
上传时间： 2013-12-21
上传用户：kytqcool
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上传时间： 2015-08-03
上传用户：youke111
资源简介：通用Java智能卡平台的研究，学习java智能卡的资料。
上传时间： 2016-04-30
上传用户：思琦琦
资源简介：低压电器电弧运动过程三维成像理论及运动机理研究在国内外取得了一定的进展，但作为一种新型电弧研究方法，特别是对电弧运动可视化方面的研究尚处于起步阶段，其技术涉及到电器学、数值计算、图像处理、计算机科学等众多学科领域，加之电弧复杂的非线性特性及...
上传时间： 2013-04-24
上传用户：cngeek
资源简介：随着金融行业的不断发展，IC智能卡正在并已经融入当今信息技术的主流，人们已愈来愈多地开始接受和使用IC智能卡。根据应用环境的不同，传统的IC卡读写机具可以分为两种：座式IC卡读写器和IC卡手持POS机。无线局域网、嵌入式系统和生物鉴别三种技术相结合的IC...
上传时间： 2013-06-07
上传用户：黑漆漆
资源简介：作者Alan Hastings具有渊博的集成电路版图设计知识和丰富的实践经验。本书以实用和权威性的观点全面论述了模拟集成电路版图设计中所涉及的各种问题及目前的最新研究成果。书中介绍了半导体器件物理与工艺、失效机理等内容；基于模拟集成电路设计所采用的3种基...
上传时间： 2013-06-23
上传用户：天大地大
资源简介：静电放电（ＥＳＤ）是造成大多数电子元器件或电路系统破坏的主要因素。因此，电子产品中必须加上ＥＳＤ保护，提供ＥＳＤ电流泄放路径。电路模拟可应用于设计和优化新型ＥＳＤ保护电路，使ＥＳＤ保护器件的设计不再停留于旧的设计模式。文中讨论了器件由ＥＳＤ...
上传时间： 2013-11-05
上传用户：二十八号
资源简介：Many thermal metrics exist for integrated circuit (IC) packages ranging from θja to Ψjt.Often, these thermal metrics are misapplied by customers who try to use them to estimate junction temperatures in their systems.
上传时间： 2013-10-18
上传用户：猫爱薛定谔
资源简介：单片机应用技术选编(9) 目录 第一章 专题论述1.1 集成电路进入片上系统时代(2)1.2 系统集成芯片综述(10)1.3 Java嵌入技术综述(18)1.4 Java的线程机制(23)1.5 嵌入式系统中的JTAG接口编程技术(29)1.6 EPAC器件技术概述及应用(37)1.7 VHDL设计中电路简化问题的...
上传时间： 2014-04-14
上传用户：gtf1207
资源简介：仿真植物是随着信息技术进步而迅速发展起来的新兴研究领域，已成为计算机领域 的研究热点之一 仿真植物技术对作物产量预测 土地生产力评价 资源环境分析 作物栽 培指导 作物生长机理研究以及调控作物生长发育及其对环境的反应研究都有着十分重要的 意义 实...
上传时间： 2013-12-12
上传用户：jqy_china
资源简介：本文件包括了一系列应力测试失效机理、 最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。 这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效， 目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。 这组测试应该是有区别的使用，每个认证方案应检查以下： a、任何潜在...
上传时间： 2022-05-08
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资源简介：电子元器件失效分析与典型案例系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。基础篇阐述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具；案例篇按照元器件门类分为九章，即集成电...
上传时间： 2022-07-24
上传用户：shjgzh
资源简介：电子元器件抗ESD技术讲义:引 言 4 第1 章 电子元器件抗ESD损伤的基础知识 5 1.1 静电和静电放电的定义和特点 5 1.2 对静电认识的发展历史 6 1.3 静电的产生 6 1.3.1 摩擦产生静电 7 1.3.2 感应产生静电 8 1.3.3 静电荷 8 1.3.4 静电势 8 1....
上传时间： 2013-07-13
上传用户：2404
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上传用户：fanxiaoqie
资源简介：本文件包含了离散半导体元件（如晶体管，二极管等）最低应力测试要求的定义和参考测试条件.使用本文件并不是要解除供应商对自己内部认证项目的责任性，此外此文件并不《基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理》本文件包含了离散半导体元件（如晶体管，二...
上传时间： 2022-07-27
上传用户：fliang
资源简介：单片机应用技术选编10 目录 第一章 专题论述1.1 嵌入式系统的技术发展和我们的机遇(2)1.2 一种新的电路设计和实现方法——进化硬件(8)1.3 从8/16位机到32位机的系统设计(13)1.4 混合SoC设计(18)1.5 AT24系列存储器数据串并转换接口的IP核设计(23)1.6 低能耗嵌...
上传时间： 2013-12-04
上传用户：vmznxbc
资源简介：单片机应用技术选编(11) 目录 第一章 专题论述 1.1 3种嵌入式操作系统的分析与比较(2) 1.2 KEIL RTX51 TINY内核的分析与应用(8) 1.3 中间件技术及其发展展望(13) 1.4 嵌入式实时操作系统μC/OSⅡ的移植探讨(19) 1.5 μC/OSⅡ的移植及其应用系统开发(23) 1...
上传时间： 2013-11-06
上传用户：569342831
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上传时间： 2014-01-18
上传用户：zyt
资源简介：ISO7816 智能卡标准 对学习IC卡的朋友有帮助!
上传时间： 2013-12-21
上传用户：chenjjer
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上传时间： 2014-01-03
上传用户：zhliu007
资源简介：IC卡智能卡，即IC卡，又称“集成电路卡”，英文名称为“Integrated Circuit Card” 或 “Smart Card”,是将具有存储、加密及数据处理能力的集成电路芯片镶嵌于塑料基片中制作而成，它包含了微电子技术和计算机技术，是一种成熟的高技术产品。 这种既具有智...
上传时间： 2014-01-25
上传用户：alan-ee
资源简介：恶意代码机理与防范技术研究，一篇非常好的博士毕业论文，对于恶意代码讲解全面而有深度，对于恶意代码研究很有帮助，.nh格式，使用CAJViewer打开
上传时间： 2015-12-15
上传用户：784533221
资源简介：智能卡电子锁方案 控制器采用单片机89C51,IC卡采用ATMEI 公司的AT24C01。
上传时间： 2013-11-25
上传用户：wab1981
资源简介：《D_S证据理论在数据融合中失效问题的研究》《D_S证据理论中的证据组合》
上传时间： 2013-12-26
上传用户：zhouli
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上传用户：qq1604324866
资源简介：智能卡标准,ISO7816-1,规定了ID-1型带触点集成电路卡的基本技术要求,主要包括:1.物理特性、记录方法、物理接口要求。2.电气信号和传输协主要使用对象主要是与IC卡应用相关的卡片设计、制造、管理、发行以及应用系统的研制、开发、集成和维护等部门或单位
上传时间： 2016-12-14
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上传时间： 2017-03-01
上传用户：ls530720646
