电子产品可靠性分析、评价的重点在于确定其高风险环节。基于充分考量失效机理的分析目的，采用了“元器件-失效模式-失效机理-影响因素”相关联的分析方法，通过相关物理模型和一个电子产品分析案例，实现了利用这一方式确定高风险环节和分析可靠性的全过程，得到了这一方法比采用FMEA等失效模式分析更为实际、准确的结论。
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上传时间： 2013-11-19
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上传时间： 2014-11-04
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上传时间： 2022-07-08
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上传时间： 2013-11-30
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上传时间： 2017-03-09
上传用户：dave520l
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上传时间： 2022-04-11
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上传时间： 2013-06-23
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上传时间： 2013-07-07
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上传时间： 2013-07-06
上传用户：eeworm
资源简介：电子元器件可靠性和失效分析(共40篇)
上传时间： 2013-07-15
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上传时间： 2013-04-15
上传用户：eeworm
资源简介：电子产品的工艺,结构与可靠性
上传时间： 2013-04-15
上传用户：eeworm
资源简介：专辑类-应用电路专辑-71册-594M 应用电子产品电路原理维修精要-234页-5.7M.pdf
上传时间： 2013-06-29
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上传时间： 2013-06-21
上传用户：lwt123
资源简介：专辑类-电子工艺-质量及可靠性相关专辑-80册-9020M 电子元器件可靠性和失效分析经典文章-共40篇-pdf.zip
上传时间： 2013-07-04
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资源简介：专辑类-家电维修相关专辑-88册-9.18G 应用电子产品电路原理维修精要-234页-5.7M.pdf
上传时间： 2013-07-06
上传用户：WMC_geophy
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上传时间： 2014-01-17
上传用户：qilin
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上传时间： 2013-12-17
上传用户：TRIFCT
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上传时间： 2014-05-05
上传用户：时代将军
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上传时间： 2014-05-05
上传用户：时代将军
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上传时间： 2014-05-05
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上传时间： 2014-05-05
上传用户：时代将军
资源简介：文档为Multisim10和ProtelDXP软件在电子产品研发中的应用详解文档，是一份不错的参考资料，感兴趣的可以下载看看，，，，，，，，，，，，，
上传时间： 2022-07-01
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上传时间： 2013-04-15
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上传时间： 2013-06-17
上传用户：eeworm
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上传时间： 2013-06-06
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上传时间： 2013-07-28
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资源简介：专辑类-电子工艺-质量及可靠性相关专辑-80册-9020M 电子产品工艺-201页-6.5M.pdf
上传时间： 2013-04-24
上传用户：kirivir
资源简介：专辑类-电子工艺-质量及可靠性相关专辑-80册-9020M 电子产品制造工艺-212页-8.6M.pdf
上传时间： 2013-06-27
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上传时间： 2013-04-24
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