高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。
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上传时间: 2013-06-07
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上传时间: 2013-07-11
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上传时间: 2018-05-08
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上传时间: 2013-08-04
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上传时间: 2013-07-28
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上传时间: 2013-08-04
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资源简介:基于FPGA的系统设计和应用研究
上传时间: 2013-04-15
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上传时间: 2013-04-24
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资源简介:专辑类-可编程逻辑器件相关专辑-96册-1.77G 基于FPGA的系统设计和应用研究-72页-3.1M.pdf
上传时间: 2013-04-24
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上传时间: 2013-07-11
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上传时间: 2015-02-11
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上传时间: 2013-11-27
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上传时间: 2013-12-23
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上传时间: 2014-05-05
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上传时间: 2022-04-13
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资源简介:该文档为基于FPGA的ADC采集系统设计总结文档,是一份很不错的参考资料,具有较高参考价值,感兴趣的可以下载看看………………
上传时间: 2022-04-18
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上传时间: 2022-05-04
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资源简介:基于FPGA的反应时间测试机verilog HDL实验,适合感兴趣的学习者学习,可以提高自己的能力,大家可以多交流哈
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上传用户:20125101110
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上传时间: 2013-04-24
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上传时间: 2013-08-01
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上传时间: 2013-06-12
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