西安谊邦电子 公司引进美国的先进半导体测试技术，在此基础上研制生产了YB6000系列半导体分立器件测试系统，该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点，各项技术指标均达到国际领先水平。其雄厚的技术实力，多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使谊邦电子YB系列测试系统性能更加超群，品质更为可靠稳定。谊邦电子研发技术涉及高端集成电路测试、半导体分立器件测试和各种客户产品测试等领域。产品主要应用于军工、汽车、飞机、船舶制造、能源等行业领域。 西安谊邦凭借较强的技术实力和完善的科学管理，能够给用户提供完善的售前售后技术支持。科技创新、服务无限，是我们工作的宗旨。
上传时间： 2013-10-30
上传用户：yangqian
半导体测试很好的教程资料，较全面，而且挺通俗易懂的。
标签： ic半导体
上传时间： 2022-05-23
上传用户：lipengxu
在半导体测试应用中获得最大吞吐量并最大程度提高低电流性能吉时利最新的半导体开关主机—— 707B六槽矩阵开关主机 和 708B单槽矩阵开关主机。这些新的主机专门为实验室和生产环境的半导体测试应用优化，具有极高的指令到连接速度。此应用笔记涉及直流和交流特性分析的开关系统配置，开关系统定时考虑，源和测量仪器的协调并提供应用实例。
上传时间： 2013-11-10
上传用户：hjkhjk
随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。ADC的主要参数ADC的主要指标分为静态指标和动态指标2大类。静态指标主要有：Differ ential Non-Li nearity（DNL）ntegral Non-Li nearity（INL）Of fset Error ull Scale Gain Error动态指标主要有：
上传时间： 2022-06-19
上传用户：lostxc
自主可控大势所趋，国产CPU王者归来.pdf 中美摩擦依旧在，难阻5G朝阳红.pdf 芯片全面观之探究全球半导体行业巨擘.pdf 华为事件引各方关注，发展自主可控时不我待.pdf 华为事件背后的CPU之战，ARM vs Intel.pdf 华为海思（华为芯片大观）.pdf 华为5G全球领先毋庸置疑，国内外攻城略地.pdf 国产崛起，“三明一暗”布局5G大产业机遇.pdf 大陆半导体逆周期成长，产业变革机遇渐行渐近.pdf 从台积电财报看foundry近况.pdf 从华虹（无锡）项目中标数据，看北方华创、中微半导体、盛美半导体引领工艺设备国产化.pdf 从长江存储的设备采购数据，看国产工艺及测试设备在3D Nand产能建设的机遇与潜力.pdf 长江存储等采购测试设备几乎100％依赖进口，半导体测试设备国产化任重道远.pdf 半导体自主可控全景研究.pdf 爱立信5G报告.pdf “中华信”借力5G继续进阶（重点：中国信科）.pdf “中华信”借力5G继续进阶.pdf DRAM，产业结构变化孕育中国玩家进场良机.pdf AMD拟停止X86授权，何为芯片底层架构？.pdf 5G之射频前端，三维度下的三改变.pdf 2019年AI芯片行业研究报告.pdf …………
上传时间： 2013-05-19
上传用户：eeworm
半导体存储器及其测试
上传时间： 2013-04-15
上传用户：eeworm
专辑类-器件数据手册专辑-120册-2.15G 半导体存储器及其测试-376页-6.0M.pdf
上传时间： 2013-06-21
上传用户：zhouli
意法半导体STM32F103核心板外扩测试程序
上传时间： 2013-11-02
上传用户：88mao
电力半导体器件结温的计算和测试
上传时间： 2013-11-05
上传用户：zq70996813
各种电子器件管脚图,THD-1型数字电路实验箱简介,门电路及参数测试,半加器、全加器,数据选择器,数码比较器,译码器和数码显示器,锁存器和触发器,中规模计数器,双向移位寄存器,三态门和数据总线,半导体存储器,多谐振荡器,单稳态触发器,CMOS门电路及集成施密特触发器,集成数模转换器(DAC),逐次渐进型模数转换器(ADC)
上传时间： 2013-12-18
上传用户：heart520beat
