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ATPG

APT是一个程序开发语言,AutomaticTestPatternGeneration(ATPG)自动测试向量生成是在半导体电器测试中使用的测试图形向量由程序自动生成的过程。测试向量按顺序地加载到器件的输入脚上,输出的信号被收集并与预算好的测试向量相比较从而判断测试的结果。ATPG有效性是衡量测试错误覆盖率的重要指标。
  • 从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成(ATPG)工具 FastScan的 测试文档中提取出测试电路(CUT)的测试模式

    从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成(ATPG)工具 FastScan的 测试文档中提取出测试电路(CUT)的测试模式,生成便于对应压缩算法的文件 格式。 本文中, 给出了 2 种压缩测试模式的方法, 一种是基于统计的哈夫曼编码, 一种是基于差分运算的Golomb 编码。本次毕业设计中,在熟悉Mentor Graphics ATPG工具 FastScan的基本功能和其主要的测试模式输出文件的格式的基础上, 实现其中测试结构和测试模式数据的分析提取, 并且在掌握典型的测试模式压缩 算法的思想以及 C/C++开发环境的前提下,选择或综合相关的优化压缩算法,针 对测试结构信息,实现测试模式数据的压缩,及软件的基本图形化操作和结果报 告界面。

    标签: Graphics FastScan Mentor ATPG

    上传时间: 2017-08-17

    上传用户:bcjtao