NEC MCU在马达方面的应用 Agenda1、NEC MCU在马达应用方面的特点 1.1 NEC 8位MCU在马达应用方面的特点 1.2 NEC 16位MCU在马达应用方面的特点 1.3 NEC 32位MCU在马达应用方面的特点 2、NEC MCU在马达方面应用的方案3、总结
上传时间： 2013-11-09
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8位MCU升级至32位MCU的设计方案 目前的MCU市场分为三个部分， 8位、16位和32位内核（4位内核MCU现在已相当少用，故在本次比较中将其忽略）。对于这三个部分中的每一个，其规模大体相同。传统上8位内核占最大的市场份额。根据一些分析人士报告，可能32位内核市场占有率已经超过了8位内核。即使目前尚未超过，时间也不会太长。32位内核市场份额是迄今为止增长最快的。8位内核和16位内核仍在增长，但在速度方面远不如32位内核（8位内核的增长速度仍快于16位内核）在很长的一段时间内， 很多人相信16位MCU可能会被8位MCU和32位MCU取代。目前的32位MCU器件采用最新技术制造（与8位内核和16为内核相比）。
上传时间： 2014-01-21
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NEC 32位MCU参考手册
上传时间： 2013-11-11
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NEC 16位MCU参考手册 The 78K0R/IC3 is a 16-bit single-chip microcontroller that uses a 78K0R CPU core and incorporates peripheral functions, such as ROM/RAM, a multi-function timer, a multi-function serial interface, an A/D converter, a programmable gain amplifier (PGA), a comparator, a real-time counter, and a watchdog timer.
上传时间： 2013-11-02
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NEC 8位MCU参考手册
上传时间： 2013-11-17
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NEC 32位MCU V850系列产品简介及应用 最高可达到：200Mhz工作频率432MIPS与8/16位MCU相比,NEC 32位MCU在相同频率下,可以提供至少快10 倍的指令执行速度 对于完成相同的应用,使用32位MCU可以比8/16位MCU的速度慢2/3或1/2,降低系统功耗 V850,V850ES,V850E1,V850E2 CPU的目标代码向前兼容
上传时间： 2013-11-19
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论述了基于数字温度传感器的单片机温度测控系统。把PC机中实现减法运算的方法运用到MCU的汇编语言程序设计中，从而完成了AD7416的温度采样汇编语言程序设计。给出了温度测控系统简化电路原理图以及符合MCS—51汇编语言特点的温度采样子程序流程框图。
上传时间： 2014-12-27
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作为一种新的、最有潜力的光源，LED照明以其节能、环保的优势越来越受到人们重视。加上国家和地方政府的政策鼓励，我国的LED照明产业进入了加速发展阶段，运用市场迅速增长。在室内照明方面，用LED灯替代传统的可调光白炽灯或者卤素灯也将是大势所趋。由于传统的白炽灯调光器采用可控硅调光器，用LED灯替代白炽灯时，要求不能改变原有线路，还要能适应现有的可控硅调光器。针对这一目标市场，目前很多大的半导体厂商（包括国际知名半导体厂商）都已经推出了自己的LED调光ASIC，但由于LED固有的发光原理，目前市面上的LED ASIC调光案都还不是很成熟，都有其固有的问题，本文就将针对目前的调光方案做一个详细的分析，并介绍我们基于MCU的调光方案。
上传时间： 2013-11-21
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以典型的9S08 系列为例，当你选择了一个MCU 型号后，在图1-4 右侧会显示出所有针对该型号芯片可用的项目调试场景。其中：Full Chip Simulator”是芯片全功能模拟仿真，即无需任何目标系统的硬件资源，直接在你的PC 机上模拟运行单片机的程序，在模拟运行过程中可以观察调试程序的各项控制和运行流程，分析代码运行的时间，观察各种变量，等等。CW 提供了功能强大的模拟激励功能，可以在模拟运行时模拟一些外部事件的输入，配合程序调试；P&E Multilink/Cyclone Pro”是基于P&E 公司的硬件调试工具实现实时在线硬件调试。实际就是我们经常说的BDM 调试。BDM 调试是基于芯片本身内含的在线调试功能，可实现程序下载，单步／全速运行，可以设若干个断点，可以观察和修改任意寄存器或RAM 内存空间。BDM 几乎是开发飞思卡尔8 位（9S08 和RS08 系列）、16 位（9S12 系列）和32 位（Coldfire V1 系列）单片机的标准调试模式，运用最为广泛；SofTec HCS08”是另外一家SofTec 公司提供的硬件调试工具，国内使用较少；HCS08 Serial Monitor”是基于芯片串口的监控调试开发模式。由于开发效率较低，现在几乎无人使用。
上传时间： 2013-10-10
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我公司生产的 USBkey 产品所使用的MCU 电路，自2007 年9 月初USBkey 产品开始量产化后，我们对其部分产品做了电老化试验，发现该款电路早期失效问题达不到我们要求，上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右。为此，我们从去年10 月到今年2 月对所生产的产品（已发出的除外）全部进行了电老化筛选，通过这项工作发现了一些规律性的东西，对提高电子产品的安全可靠性有一定指导意义。2 试验条件的设定造成电路早期失效的原因很多，从 IC 设计到半导体生产工艺、电路封装、焊接装配等生产工序和生产设备、生产材料、生产环境及人为的因素都有可能是成因，作为电路的使用方不可能都顾及到，也不可控。通过分析，我们认为还是着眼于该款电路在完成半导体生产工艺后，在后部加工中所产生的早期失效问题更有针对性。，因此决定从电路的后部加工工序即封装、COS 软件以及产品SMT 加工工艺等方面入手，安排几种比对试验并取得试验数据，以期找出失效原因。
上传时间： 2014-12-28
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