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  • EAN条码字体的解码算法 经常发现用PB的开发人员在问为什么用EAN的字体打出来的条码扫描枪无法扫描 其实受EAN的编码规格的限制

    EAN条码字体的解码算法 经常发现用PB的开发人员在问为什么用EAN的字体打出来的条码扫描枪无法扫描 其实受EAN的编码规格的限制,EAN的字体是不能直接使用的,EAN13的编码规格就不 多说了,下面给出两个函数可把条码转换为EAN字体可识别的字符串(分别对应EAN13和EAN8两种编码)

    标签: EAN 条码 字体 发现

    上传时间: 2014-01-22

    上传用户:rocketrevenge

  • 确定符号表的组织方式

    确定符号表的组织方式,一般应包括名字栏和信息栏,其中名字栏作为关键字。要考虑能够存储有关名字的信息,并可以高效地完成如下操作: a.查找:根据给定的名字,在符号表中查找其信息。如果该名字在符号表中不存在,则将其加入到符号表中,否则返回指向该名字的指针; b.删除:从符号表中删除给定名字的表项。

    标签: 符号 方式

    上传时间: 2016-03-06

    上传用户:zhangyi99104144

  • 软件使用次数限制

    软件使用次数限制,可自定义开机后使用次数,限制每次开机后使用次数。

    标签: 软件使用

    上传时间: 2016-04-05

    上传用户:远远ssad

  • msp430的flash测试代码

    msp430的flash测试代码,这个是对430的A,B信息段作测试

    标签: flash msp 430 测试代码

    上传时间: 2013-12-17

    上传用户:凤临西北

  • 主要介绍了如何使用E8仿真器在以Renesas芯片为MCU的开发板上进行仿真调试。 第1 章 概要 第2 章 E8 仿真器功能 第3 章 使用前的准备 第4 章 调试的准备 第5 章 调试

    主要介绍了如何使用E8仿真器在以Renesas芯片为MCU的开发板上进行仿真调试。 第1 章 概要 第2 章 E8 仿真器功能 第3 章 使用前的准备 第4 章 调试的准备 第5 章 调试 第6 章 教程示例 附录A E8 仿真器的构成 附录B 窗口功能一览 附录C 命令行功能 附录D High-performance Embedded Workshop 的注意事项 附录E 有关硬件诊断程序 E.1 为了执行诊断程序的系统设置 E.2 诊断程序的执行 E.3 错误发生时的处理

    标签: Renesas MCU 仿真器 调试

    上传时间: 2013-12-26

    上传用户:chens000

  • 注册为会员

    注册为会员,并通过已经注册的信息来验证用户登录的正确与否,注册信息保存在数据库中 MySQL

    标签:

    上传时间: 2016-04-30

    上传用户:jcljkh

  • 词法分析器的实现

    词法分析器的实现,1) 输入:字符串(待进行词法分析的源程序),输出:由(种别码,自身值)所组成的二元组序列。 2) 功能: a. 滤空格 b. 识别保留字 c. 识别标识符 d. 拼数 e. 拼复合单词: 例如: >=、 <=、 := 3) 检查如下错误: a. 程序语言的字符集以外的非法字符 b. 单词拼错,如9A88,而对于将begin拼写成begon的错误,只须把begon当成标识符即可

    标签: 分析器

    上传时间: 2016-05-18

    上传用户:c12228

  • 程序之所以称之为扩展功能的DFT

    程序之所以称之为扩展功能的DFT,是因为,它有如下扩展功能: 1. 可以自动扩展输入序列X,如果你输入的长度不足N,会自动以NaN补足。 2. 可以增大频率精度,至1/(N*T),其中T是采样周期。 3. 可以统计输入序列X的正弦波的幅度和相位 4. 输入序列可以包含NaN 5. 可以限制迭代的次数 6. 可以输入/计算二维矩阵

    标签: DFT 程序 扩展功能

    上传时间: 2014-01-25

    上传用户:miaochun888

  • 用AT89S51单片机的P0.0/AD0-P0.7/AD7端口接数码管的a-h端

    用AT89S51单片机的P0.0/AD0-P0.7/AD7端口接数码管的a-h端,8位数码管的S1-S8通过74LS138译码器的Y0-Y7来控制选通每个数码管的位选端。AT89S51单片机的P1.0-P1.2控制74LS138的A,B,C端子。在8位数码管上从右向左循环显示“12345678”。能够比较平滑地看到拉幕的效果。

    标签: AD 0.0 0.7 89S

    上传时间: 2016-06-17

    上传用户:wanghui2438

  • 用过采样和求均值提高ADC分辨率 很多应用需要使用模/数转换器 ADC 进行测量 这些应用所需要的分辨率取决于信号的动 态范围 必须测量的参数的最小变化和信噪比 SNR 因此 很多系统使用较高

    用过采样和求均值提高ADC分辨率 很多应用需要使用模/数转换器 ADC 进行测量 这些应用所需要的分辨率取决于信号的动 态范围 必须测量的参数的最小变化和信噪比 SNR 因此 很多系统使用较高分辨率的片外ADC 然而也可以通过使用一些技术来达到较高的分辨率和SNR 本应用笔记介绍用过采样和求均值的方 法来提高模数转换的分辨率和SNR 过采样和求均值技术可以在不使用昂贵的片外ADC的情况下提 高测量分辨率 本应用笔记讨论如何使用过采样和求均值的方法来提高模/数转换 ADC 测量的分辨率 另 外 本文最后的附录A B和C分别给出了对ADC噪声的深入分析 最适合过采样技术的ADC噪声 类型和使用过采样和求均值技术的示例代码

    标签: ADC SNR 分辨率 测量

    上传时间: 2016-06-21

    上传用户:hanli8870