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串联型二极管峰值包络检波器电路及原理

时间:2013-03-11      关键字:串联型,二极管,峰值,包络检波器,   
串联型二极管峰值包络检波器电路及原理

串联型二极管峰值包络检波器 电路及原理

大信号(0.5V以上)检波器,也称包络检波器。


1、串联型二极管峰值包络检波器


串联型二极管峰值包络检波器电路及原理


该种检波器的原理电路如图5.5-10A所示。在电路中,信号源U1、二极管VD和检波负载RLCL是串联相接的,故称之为串联型二极管峰值包络检波器。电路是利用VD单向导电和检波负载RLCL充放电而工作的。VD的寻通与否决定于高频输入电压U1和输出电压UO(即电容CL上的电压UCL)之差(U1-U0),在高频信号正半周(U1-U0)﹥0期间VD导通,流过VD的高频电流ID对CL导通时充电,充电时间常数为RDCL(RD很小为VD导通时的内阻)很小,U0在很短时间内就接近高频电压最大值。在(U1-U0)﹤0期间,VD截止,电容CL通过RL放电,由于放电时间常数RLCL(》RDCL)远大于高频信号周期,故放电很慢,这样不煌地循环反复充放电,就得到如图5.5-10B中电压波形。由于U0与U1的幅度相当接近,峰值包络检波由此而得名。


图5.5-10C为检波二极管电流电压波形,ID呈脉冲状,其幅度随U1包络的变化而变化,ID中含有的平均电流UDEV在负载RL上的压降即为输出电压UO。可以证明,当U1=UC(1+MACOSOT)COSOCT时UO中调制信号分量UOO为:



式中θ为二极管导通时通角之半,它为仅与RD与RL有关的一个常数。θ、RL、RD三者的关系为:



R1D决定于θ,即取决于RD/RL,因此,也可根据RD/RL值,通过表5.5-3查出R1D值。



包络检波器常有两种非线性失真:一是对角切割失真、二是负峰切割失真。


图5.5-11示出对角切割失真情况。产生该种失真的原因是检波电路的时间常数RLCL选得过大,以使电容CL的放电速率跟不上包络变化速率所造成的。为了避免对角切割失真的产生,对于单音调制选取时间常数RLCL时必须满足下式




上式表明,MA的欧越大,包络下降速度越快,避免产生对角切割失真所要求的RLCL值就越小。在多音调制时,作为工程估算,欧和MA应取其中的最大值。



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