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边扫描测试

  • 资源大小:26 K
  • 上传时间: 2024-05-24
  • 上传用户:bluedrops
  • 资源积分:2 下载积分
  • 标      签: 扫描 测试

资 源 简 介

边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的,这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路,以形成全面的电路板级测试协议。

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