IGBT瞬态结壳温升计算

资 源 简 介

热阻是评价IGBT可靠性的重要指标.寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义.根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法

您 可 能 感 兴 趣 的

• IGBT瞬态结壳温升计算
• 一种无片外电容LDO的瞬态增强电路设计
• 改善基于微控制器的应用的瞬态免疫性能
• 改善基于微控制器的应用的瞬态免疫性能
• RS-485系统中处理瞬态威胁
• 电源的线负载瞬态响应测试
• TVS瞬态二极管和压敏电阻选型手册
• TVS瞬态抑制选型
• oracad的应用 1 原理图设计 要求原理图中有两个以上芯片或五个以上三极管 2 PCB设计 3 Pspice分析： 完成交流小信号分析和瞬态分析
• 计算系统瞬态性能指标（稳态误差允许正负2％）