仪器源码->基MSP430 OPEN/SHORT C代码,已成功用于工业自动控制 本仪器适应于各种邦定IC电路测试,针对邦定电路密集,芯片体积小不能用目检法判断,用常规仪器也难以检测的特点。我们的OPEN/SHORT专业测试仪能迅速检测邦定IC的连线是否正常,利用IC芯片本身特点对各引脚进行开路与短路测试,正确判断邦线中每条线路的开路、短路以及芯片本身和外围器件损坏等现象
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