本书内容包括：
快速有效的测试存储器芯片
如何写入和擦除快闪存储器
用循环冗余校验码验证非易失性存储器数据
与芯片的内部外设和外部外设接口
设计和实现设备驱动
优化嵌入式软件
最大限度高
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2016-08-31
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- 标 签：
测试
存储器芯片
存储器数据
外设
资 源 简 介
本书内容包括：
快速有效的测试存储器芯片
如何写入和擦除快闪存储器
用循环冗余校验码验证非易失性存储器数据
与芯片的内部外设和外部外设接口
设计和实现设备驱动
优化嵌入式软件
最大限度高性能的应用C++特性
本书适用于嵌入式系统程序员、设计师和项目管理人员
