基于CPLD与单片机的高速数据采集系统

资 源 简 介

本文针对新型匝间耐压测试仪中需要高速采集数据的问题提出了一种结合CPLD 与单片机的高速数据采集系统设计方案。CPLD 产生A/D 芯片的控制时序以及SRAM 的读写控制时序，单片机输出给CPLD控制A/D 转换的启动信号，并通过CPLD 读取SRAM 中的采样数据。该系统具有较好的可移植性。

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