利用过采样技术提高ADC测量分辨率

资 源 简 介

提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高。

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