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硬件设计从失败案例中找方法

时间:2024-07-12

大家好,我是记得诚。


2022年底,受邀去上海参加电子技术大会,并在一个硬件设计的分论坛做一场演讲,题目是《硬件设计从失败案例中找方法》,一般演讲都是比较紧张的,而且是现场,台下坐着的都是同行,大佬云集。


针对这种情况,我的做法是提前准备,先把PPT打磨好,然后对着空气演讲几遍,演讲和写文章差别太大了,文章可以不断的进行修改,将自己认为最完美的一版呈现给读者。


而演讲就不同了,说的话像泼出去的水一样,是收不回来的,所以每一句话都显得尤其的重要,而且中间不能有长时间的停顿。


我发现光演练,每一遍都有一些差异,所以就有了下面的逐字稿。


大家下午好,首先非常感谢大会的邀请,很荣幸也很开心,在这里,和大家做一个简单的分享和交流,这次课题的名字是:硬件设计从失败案例中找方法。


为什么取这个名字呢?因为成功不会从天而降,失败往往有迹可循。


台下很多都是工程技术人员,硬件工程师居多,我们都知道在一个项目的开发过程中,硬件工程师几乎要参与到项目的每一个阶段,从概念,到计划,到开发验证,再到后面的量产维护。


那大家有没有思考过这样一个问题,在哪一个阶段,我们的收获是最多的,这里的收获我们指的是我们技术上的积累。


如果一个项目做下来,平平无奇,很平淡,一帆风顺,我们用的电路都是标准化的电路,一些大公司标准化的电路,顺利的跑完整个流程,没犯错,我们的KPI可能比较高。


但是让我们技术成长,积累最多的,一定是熬夜加班DEBUG,调试一些新的电路方案,我们踩了一些坑,较劲脑子来把这些坑填平,我们把这些宝贵的踩坑经历写成文档,形成方法论,再形成一个标准化的流程,我相信这才是真正的技术收获。


大公司出错几率小,那是无数的前人栽了无数的树,做了很多工作,包括标准化的文档,标准化的作业流程等等。


我们今天的内容就是从三个案例,来介绍一些设计方法,调试方法,以及调试原理。


  • 第1个案例是线性充电发热问题,这里涉及的方法是冗余设计。


  • 第2个案例是批次底电流差异问题的,这里涉及一个电流分解的方法,叫作灌电压法。


  • 第3个案例是SIM概率掉卡问题,这里介绍的是海森堡测不准原理。


然后下面就是逐一的讲这几个案例。


上海这次算是我第二次线下演讲,整体对自己还是满意的,紧张还是紧张,但是相比较第一次,有了长足的进步,说实话,还是挺享受这种感觉的。


继续加油吧!



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